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2657A高功率數字源表是Keithley（吉時利）公司推出的一款高性能測試儀器，主要用於對高功率半導體器件進行I-V參數測試和特性分析。該儀器支持最大3000V電壓和120mA電流，測量分辨率高達1fA/100nV。它可提供180W的直流或脈衝功率，並具備雙22位積分式ADC和雙18位高速ADC，實現高精度和高速瞬態捕獲。此外，2657A還內置TSP Express軟件，支持遠程控製和自動化測試，兼容LXI Class C標準，並具備多種數字I/O接口和USB端口。以下是該儀器的詳細技術參數：

一、基本性能參數

1、型號：2657A

2、通道數：單通道

3、最大電流源/量程：120mA

4、最大電壓源/量程：3000V

5、測量分辨率（電流/電壓）：1fA（電流）/100nV（電壓）

6、源或阱能力：提供或同步高達180W的DC或脈衝電源（±3000V@±20mA，±1500V@±120mA）

7、典型脈衝時間：3kV下15ms；1kV下5ms

二、電氣性能參數

1、電流源精度

* 量程：1nA至120mA

* 編程分辨率：30fA至3μA

* 源精度（±%rdg+A）：0.1%+2E-12+VoE-15（低量程）至0.03%+36μA（高量程）

* 積分ADC精度（±%rdg+A）：0.1%+6E-13+VoE-15（低量程）至0.02%+24μA（高量程）

* 高速ADC精度（±%rdg+A）：0.2%+6E-13+VoE-15（低量程）至0.08%+800nA（高量程）

2、電壓源精度

* 量程：200V至3000V

* 編程分辨率：5mV至80mV

* 源精度（±%rdg+V）：0.03%+50mV（低量程）至0.03%+750mV（高量程）

* 積分ADC精度（±%rdg+V）：0.025%+50mV（低量程）至0.025%+600mV（高量程）

* 高速ADC精度（±%rdg+V）：0.05%+100mV（低量程）至0.05%+1.2V（高量程）

3、顯示分辨率

* 電流：1fA至100nA（不同量程下有所不同）

* 電壓：100μV至1mV（不同量程下有所不同）

4、噪聲

* 典型電壓源噪聲：量程的0.005%

* 典型電流源噪聲：量程的0.08%

5、設置時間

* 典型電壓源設置：<1ms至200V，<7ms至3000V

* 典型電流源設置：<5ms至120mA，<200ms至1μA

三、吉時利2657A其他性能參數

1、采樣與數字化

* 雙22位精密ADC，用於高精度測量

* 雙18位每點1μs數字化儀，用於高速瞬態捕獲

* 1μs每點采樣，18bit分辨率，可以對瞬態現象進行精確的特性分析

2、觸發與同步

* TRIGGER IN到TRIGGER OUT：0.5μs（典型值）

* 單節點或多節點同步源變化：<0.5μs（典型值）

3、軟件與接口

* 包括TSP Express特性測試軟件、Labview驅動和Keithley ACS測試軟件支持

* TSP技術支持創建並運行自定義的用戶測試腳本，用於實現高速自動化測試

* USB 2.1主控製器，支持外部數據存儲

* PC接口：IEEE-488.1和.2、LXI CLASS C以太網、RS-232

* 數字I/O接口：14個漏極開路I/O位，最大5.25V

4、電源與冷卻

* 電源：100V至250V交流，50Hz–60Hz（自動檢測），功率550VA

* 冷卻：強迫風冷，側麵和頂部吸氣，後部排氣

5、物理特性

* 尺寸：高89mm×寬435mm×深549mm（3.5in×17.1in×21.6in）（不包括突出部分）

* 重量：9.98KG（22lbs）

* 使用環境：僅適合室內使用

四、應用特性

1、功率半導體器件表征和測試：適用於高亮度LED、功率半導體器件（如功率MOSFET和BJT雙極晶體管）、DC-DC變換器、電池等。

2、新材料與器件測試：支持GaN、SiC和其他化合物材料和器件的特性分析。

3、擊穿電壓測試：可測試晶體管和MOSFET的擊穿電壓。

4、瞬態現象分析：亞毫秒級瞬態現象的特性分析。

五、其他注意事項

1、校準周期：建議每年進行一次校準，以確保儀器的準確性和可靠性。

2、安全性：符合歐盟EMC指令和低壓指令，ETL列出（待確認）。

3、質保期：通常為1年，具體以購買合同為準。

2657A高功率數字源表具有高精度、高速度、高可靠性和多種測試功能等特點，適用於各種高功率半導體器件的測試和分析。用戶在使用時應根據具體測試需求選擇合適的量程和參數設置，並遵循儀器的操作手冊和安全規範進行操作。

文章來源測試儀器