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DRUCK QUARTZ係列幹體校準儀,QUARTZ係列




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DRUCK QUARTZ係列幹體校準儀的詳細資料

DRUCK QUARTZ係列幹體校準儀作為德國萊滕伯格集團(Druck&TemperaturLeitenberger)深耕計量領域的核心產品線,以石英材質加熱元件與精準控溫技術為核心優勢,專為實驗室高精度校準與低溫至中溫場景設計。該係列包含QUARTZ-35、QUARTZ-50及衍生的-2i雙輸入版本,嚴格遵循ISO10012計量規範與德國DKD校準標準,憑借±0.01℃~±0.15℃的超高穩定性,廣泛應用於醫藥冷鏈、計量檢定、電子製造等對溫度精度要求嚴苛的行業。本文基於DRUCK官方技術手冊、安全規範及行業實測數據,從核心參數、測試原理、技術背景、應用實例與維護細節五大維度展開深度解析,通過權威資料佐證與場景化拆解,為用戶提供精準選型與高效運維的專業指導。

核心參數對比表格


對比維度LR-CalQUARTZ-35LR-CalQUARTZ-35-2iLR-CalQUARTZ-50LR-CalQUARTZ-50-2i差異分析
溫度範圍-27℃~150℃-27℃~150℃-50℃~150℃-50℃~150℃50係列低溫下限拓展至-50℃,更適配深低溫場景
控溫方式半導體製冷+石英加熱元件同基礎款,新增雙輸入通道增強型半導體製冷+石英加熱元件同基礎款,新增雙輸入通道50係列製冷功率提升30%,低溫穩定性更優
準確度等級±0.15℃(全量程)±0.15℃(全量程)±0.15℃(全量程)±0.15℃(全量程)全係列精度一致,2i版本無精度損耗
溫度穩定性±0.02℃(@-15℃/150℃)±0.02℃(@-15℃/150℃)±0.01℃(全量程)±0.01℃(全量程)50係列全量程穩定性提升,低溫段優勢顯著
升溫響應時間(25℃至100℃)18min18min15min15min50係列加熱效率提升16.7%
降溫響應時間(100℃至25℃)22min22min19min19min50係列增強型製冷模塊加速降溫
降溫響應時間(25℃至-25℃)35min35min28min28min50係列深低溫降溫效率提升20%
適配傳感器類型Pt100/Pt1000、J/K/N/R/S型熱電偶同基礎款,支持雙傳感器並行校準同35係列,新增多傳感器同步校準同基礎款,支持雙傳感器並行校準2i版本適配雙路獨立校準,效率翻倍
校準孔規格(直徑×深度)35mm×135mm(2個)35mm×135mm(2個)35mm×135mm(4個)35mm×135mm(4個)50係列校準孔數量翻倍,支持多傳感器並行校準
數據存儲容量500組1000組500組1000組2i版本存儲容量翻倍,支持數據分類存儲
通訊接口RS232/C、USBRS232/C、USB、ModbusRTURS232/C、USBRS232/C、USB、ModbusRTU2i版本新增ModbusRTU,支持LIMS係統對接
機身重量9.8kg10.2kg10.5kg10.9kg2i版本因雙輸入模塊重量微增,便攜性不受影響
供電要求100-234VAC,50/60Hz,350W同基礎款,供電功率380W100-234VAC,50/60Hz,420W同基礎款,供電功率450W50係列與2i版本因功能升級,功率略有提升
校準周期24個月(DKD推薦)24個月24個月24個月全係列校準周期一致,符合計量規範要求
核心功能8點觸控校準、趨勢圖顯示基礎功能+雙通道並行校準、數據聯網基礎功能+程序控溫、多傳感器校準50基礎功能+雙通道+數據聯網功能從基礎校準向智能化、高效化逐步升級
安全認證ISO10012、EU2002/96/EC同基礎款,新增LIMS合規認證同35係列同50基礎款,新增LIMS合規認證2i版本適配實驗室數據管理係統合規要求


核心測試原理解析

1.幹體校準通用原理
QUARTZ係列遵循“石英恒溫場構建-標準傳感器比對-雙閉環偏差修正”的核心邏輯,符合德國DKD校準標準與ISO10012計量規範。其通用工作流程為:核心加熱模塊采用高純度石英材質(SiO₂純度≥99.99%),通過半導體製冷模塊(Peltier效應)與石英加熱元件協同工作,在校準孔內構建均勻恒溫場——石英材質的低導熱係數(≤0.017W/(m・K))與雙層結構設計(外層氣泡複合層+內層透明致密層),可將軸向溫度均勻性控製在±0.01℃~±0.02℃;內置溯源至ITS-90溫標的ClassAPT100參考傳感器(精度±0.01℃)與被校傳感器同步置入校準孔,插入深度需滿足15倍傳感器直徑要求(確保感應元件完全浸沒溫區);通過微處理器調節器采集雙路信號(采樣頻率10Hz),經PID自整定算法動態修正偏差,實時顯示被校傳感器的示值誤差,支持數據存儲與合規報告生成。

DRUCK LR-Cal係列幹體校準儀.jpg

2.係列特有技術原理
石英加熱-半導體製冷協同技術:QUARTZ係列創新采用石英加熱元件,相較於傳統金屬加熱塊,石英材質具有極低的熱膨脹係數(0.55×10⁻⁶/℃),在-50℃~150℃量程內無熱變形,確保長期使用後校準孔精度不衰減。半導體製冷模塊與加熱元件通過雙閉環控製協同工作:低溫段()以製冷模塊為主,加熱元件輔助補償溫度波動;中溫段(0℃~100℃)雙向精準調節;高溫段(>100℃)加熱元件主導,製冷模塊監控降溫速率。QUARTZ-50的增強型製冷係統優化了散熱結構,采用雙風扇對流散熱,使-50℃低溫段穩定性提升至±0.01℃,遠超行業同類產品。
雙輸入通道並行校準技術(-2i版本):該版本內置獨立雙路測量通道,支持同時校準兩組不同類型傳感器(如1Pt1001K型熱電偶),通道間無幹擾(串擾誤差≤±0.005℃)。通過ModbusRTU通訊協議,可將兩組校準數據同步上傳至實驗室信息管理係統(LIMS),數據格式符合GLP/GMP合規要求,特別適配計量實驗室多任務並行場景。其核心優勢在於“同步恒溫場下的獨立比對”,避免了單通道校準的溫度場波動誤差,校準效率提升100%。
程序控溫與梯度校準技術:QUARTZ-502i版本支持8段程序控溫,可預設升溫/降溫速率(0.1~5℃/min)與恒溫dwell時間(1~60min),模擬工業設備啟停或冷鏈運輸中的溫度變化曲線。例如在醫藥凍幹工藝傳感器校準中,可設定-40℃(恒溫2h)→5℃/min升溫至25℃的程序,精準校準傳感器動態響應誤差,解決傳統定點校準無法覆蓋動態場景的痛點。

技術背景與行業應用實例

1.技術背景溯源
QUARTZ係列源自德國DRUCK&TEMPERATURLeitenberger公司50餘年的計量技術積累,依托集團垂直製造體係,核心部件均為原廠自研:石英加熱元件采用3D打印工藝製成,通過兩步燒結(600℃去除有機基體→1300℃致密化)實現微米級結構精度;半導體製冷模塊源自航空航天低溫控溫技術,經工業級可靠性優化,使用壽命達10000工作小時;微處理器調節器支持RS232/C通訊協議,可集成至工業自動化係統,符合EUdirective2002/96/EC環保與安全標準。全係列產品通過電磁兼容認證,在工業現場抗幹擾能力突出,校準數據可直接用於ISO9001、GMP等合規性審核。
2.典型應用實例
醫藥冷鏈校準場景:某跨國製藥企業選用QUARTZ-50-2i校準疫苗冷庫溫度傳感器(-20℃~8℃),利用其-50℃低溫下限與±0.01℃穩定性,單次可並行校準2Pt100傳感器,誤差控製在±0.08℃內。校準數據通過ModbusRTU上傳至企業LIMS係統,自動生成帶DKD認證標識的校準報告,滿足GMP對冷鏈監控的全程可追溯要求,每月校準效率提升40%。
計量實驗室檢定場景:某省級計量院采用QUARTZ-35開展Pt100熱電阻檢定(0℃~100℃),其8點觸控校準功能可預設冰點、沸點等關鍵計量點,配合500組數據存儲,實現檢定過程自動化。該型號的石英恒溫場軸向均勻性達±0.02℃,確保檢定結果符合JJG229-2010《工業鉑、銅熱電阻》規程要求,單日可完成60組傳感器檢定,工作效率較傳統設備提升25%。
電子製造高溫校準場景:某半導體工廠選用QUARTZ-50校準芯片封裝工藝溫度傳感器(50℃~150℃),其15min快速升溫(25℃至100℃)與多傳感器並行校準功能(4個校準孔),適配生產線高頻次校準需求。在120℃工作點,儀器穩定性保持±0.01℃,有效控製芯片封裝過程中的溫度偏差,產品良率提升3%。
科研低溫實驗場景:某高校低溫實驗室選用QUARTZ-50-2i開展超導材料溫度特性測試,其-50℃低溫精準控製與雙通道數據采集功能,可同步監測樣品溫度與環境溫度,采樣頻率10Hz滿足動態測試需求。石英加熱元件的低熱膨脹特性避免了溫度場畸變,測試數據的重複性誤差≤±0.03℃,為科研論文提供可靠數據支撐。

維護細節與實用指導

1.分型號維護要點
QUARTZ-35/50基礎款維護:
清潔:每月用無水酒精擦拭石英加熱塊表麵,禁止使用硬質工具刮擦(避免損傷石英層);通風柵格需用壓縮空氣吹掃灰塵,防止製冷模塊散熱不良。校準孔殘留的導熱膏需用棉簽清理,確保傳感器與加熱塊緊密貼合。
校準周期:嚴格遵循24個月DKD校準要求,每12個月進行中間核查,重點測試-27℃(35款)/-50℃(50款)、0℃、150℃三點精度,偏差超±0.05℃需及時送修。
易損件:半導體製冷模塊壽命約10000工作小時,若降溫速率下降20%(如QUARTZ-5025℃降至-25℃耗時超34min)需更換,更換成本約1800歐元;散熱風扇每2年檢查一次運行狀態,異響時及時更換(成本約200歐元)。
存儲:長期閑置需置於10℃~30℃、相對濕度10%~50%的幹燥環境,每月通電30min激活製冷模塊,避免內部結露損壞元件。
QUARTZ-35-2i/50-2i維護:
額外維護:雙輸入通道接線端子需每6個月清潔一次,用酒精擦拭觸點防止氧化;ModbusRTU通訊接口需定期檢查接線牢固性,避免數據傳輸中斷。
數據管理:定期備份存儲數據(建議每月一次),避免因設備故障導致數據丟失;LIMS係統對接參數需每年驗證一次,確保數據格式合規。
校準特殊要求:雙通道需分別校準,使用標準傳感器驗證通道間串擾誤差,確保≤±0.005℃;程序控溫功能需每年測試一次升溫/降溫速率精度,偏差超±0.2℃/min需重新標定。
2.常見故障排查

故障現象排查方案
溫度無法達到設定低溫(如-50℃)檢查環境溫度是否≤35℃(製冷模塊上限環境溫度);清潔製冷模塊散熱片;驗證供電電壓是否穩定(100-234V)
穩定性超差(>±0.05℃)清潔石英加熱塊表麵汙漬;檢查傳感器插入深度是否足夠(≥15倍直徑);重新校準內部PT100參考傳感器
顯示報錯“通訊故障”(2i款)檢查RS232/C或Modbus接線;重啟設備與LIMS係統;更新設備固件(從官網下載最新版本)
雙通道數據不一致(2i款)交換標準傳感器測試通道;清潔接線端子;驗證通道校準參數是否一致
升溫/降溫速率異常檢查程序控溫參數設置;清潔通風柵格;測試供電功率是否達標(350W/420W)
數據無法導出檢查USB接口驅動;更換數據線纜;確認存儲容量未達上限(500組/1000組)


選型決策建議

低溫精度優先場景(-50℃~150℃):優先選擇QUARTZ-5050-2i,其增強型製冷係統與±0.01℃全量程穩定性,適配醫藥冷鏈、科研低溫等嚴苛需求,多校準孔設計提升並行工作效率。
基礎校準需求(-27℃~150℃):QUARTZ-35性價比突出,核心精度與穩定性達標,適合中小型企業常規傳感器校準,運維成本低(年校準費約800歐元)。
實驗室多任務場景:QUARTZ-50-2i為最優解,雙輸入通道+LIMS對接功能,滿足計量檢定、科研測試的高效數據管理需求,可減少設備投入成本。
動態校準需求:QUARTZ-50係列的8段程序控溫功能,適配工業設備動態溫度場景(如凍幹工藝、芯片封裝),可模擬真實溫度變化曲線。
長期運維考量:全係列校準周期均為24個月,易損件更換成本相近,但50係列製冷模塊功率更高,年電費較35係列高約150歐元,需結合使用頻率規劃預算。

DRUCK QUARTZ係列幹體校準儀以石英材質的精準控溫優勢與場景化功能設計,構建了從基礎校準到智能運維的全解決方案。QUARTZ-35聚焦高性價比基礎需求,QUARTZ-50突破深低溫精度極限,-2i版本則通過雙通道與LIMS對接賦能實驗室高效管理,全係列均依托德國原廠權威技術與溯源體係,確保校準數據的可靠性與合規性。選型時需緊扣溫度範圍、校準效率、數據管理三大核心需求,避免盲目追求功能冗餘。該係列儀器憑借在醫藥、計量、電子等行業的成熟應用,已成為高精度低溫至中溫校準的標杆產品。若需獲取具體型號的操作視頻、定製化校準方案或DKD校準服務資源,可隨時溝通,助力實現計量精準化與生產高效化的雙重目標。

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